HTRB 高温逆バイアス試験システムの特長
1、データベースのロードとインポート、実験プロセスが自動的に完了し、操作と使用に便利です。
2、テストされたデバイスのDUTのエージング電源は、ゾーニング統一電源とプログラマブル制御方式を採用しています。
3、各デバイスの漏れ電流IRをリアルタイムで監視し、テストレポートを出力し、完全な変化曲線を描くことができます。
4.モジュールは、上部と下部のブリッジの同時電源投入と監視をサポートします。
5、SiC 製品の場合、最小 HTGB コレクションは 0.1nA に達する可能性があります
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高温逆バイアス試験システム |
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製品型式 |
GK-HTXB-C16 |
GK-HTXB-C16FS |
GK-HTXB-H8P |
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適用範囲 |
このシステムは、IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCRデバイスなどのSi/SiC/GaN材料のさまざまなパッケージング形式のHTRBテストに適合できます。 |
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最高試験温度 |
175度/200度/300度 |
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テスト能力 |
16(チャンネル)*80(局)=1280 |
16(チャンネル)*40(局)=640 |
8(チャンネル)*10(局)=80 |
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基本機能 |
1、漏れ電流の上限値、試験電圧の上限値、温度の上限値の設定;エージングタイムの設定; 2、各チャンネルのバーンイン時間、バーンイン進行状況、故障したステーションの数などのリアルタイム監視と表示。- 3、バーンインパラメータ（IR、VR、ステーションごとの温度）のリアルタイム表示と記録-; 4、制限を超えているかどうかをリアルタイムで判断し、制限を超えた場合にアラームを出し、超過した駅と時間を記録します。 5、各ステーションの最大IR値をリアルタイム表示し、最大IR値が生成された時間を表示します。 6、バーンインパラメータ-は呼び出しが簡単で、テストレポートを生成し、漏れ電流変化曲線を描くことができます。 |
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機能を拡張する |
①各局のクイックカット{0}}機能（制限値を超えた後、その局の電圧を200ms遮断します） ②NTCモニター |
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外形寸法 |
W1360mm×H1820mm×D1320mm |
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重さ |
約500kg |
約500kg |
約500kg |
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